日立科学仪器(北京)有限公司

展位号：H1馆 A615         

TM4000PlusII 

观察与分析的灵活性，自动获取各类数据。快速切换！

1、可快速获得元素分布图，Camera Navi图像让您轻松找到视野，分布图(MAP)功能全程支持您的观察；操作简单且快捷，观察图像只需 3 分钟。Report Creator可让您轻松制作报告，只需选择图像和模板，就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的报告，即便是绝缘物样品，也无需预处理，就可直接进行观察；

2、“静电减轻模式”可抑制静电现象对于容易产生静电的样品，可使用“静电减轻模式”，在抑制静电的状态下进行观察。只需用鼠标在软件上点击即可切换到“静电减轻模式”；

3、可在低真空的条件下进行多种观察，对于容易产生静电的粉末或含水等样品，可结合其目的进行观察；

4、可在低真空的条件下进行二次电子像（表面形状）观察，无需预处理，也可以观察绝缘物和含水、含油样品的表面。不仅是观察传统的导电性样品，还可以在无预处理的条件下观察绝缘物和含水、含油样品。可快速进行二次电子像与背散射电子像之间的切换。

5、高感度低真空二次电子检测器，采用高感度低真空二次电子检测器(UVD)。通过检测由于电子线与残留气体分子之间的碰撞而产生的光，可以观察带有二次电子信息的图像。此外，通过控制该检测器，来检测电子照射所产生的光，可以获得CL信息（UVD-CL：带有CL信息的图像）。

6、可支持加速电压20kVTM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速电压20 kV。凭借EDS分析（选配），可进行更高计数率解析。通过加速电压20 kV，实现EDS元素分布图的高S/N化Multi Zigzag（选配可实现在广域范围内进行SEM观察。搭配自动马达台，可实现低倍率，高精度，大范围的观察分析。

7、非常简单的 EDX 分析：面分析、谱峰分析、线分析。轻松观察 STEM 图像，与全新开发的 STEM 样品台和高灵敏度低真空二次电子检测器(UVD)配合使用，轻松观察小倍率 STEM 图像、薄膜样品和生物样品。