丹东百特仪器有限公司

展位号：H1馆A736 

BeNano 90 Zeta纳米粒度仪

该产品是百特全新开发的测量纳米颗粒粒度和Zeta电位的光学检测系统。该系统中集成了动态光散射DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS，可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布，Zeta电位，高分子和蛋白体系的分子量信息等等参数，可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等等领域的基础研究和质量分析质量控制用途。

粒径范围：0.3nm-15μm；

最小样品量：3μL；

Zeta范围：无实际限制；

分子量范围：342Da-2x107Da；

温控范围：-10℃~110℃±0.1℃。

Bettersize2600激光粒度分布仪

该产品是一种采用百特首创的正反傅里叶结合光路系统的智能化激光粒度仪。正反傅里叶结合光学系统的最大特点是用单激光束实现了前向、侧向和后向散射光信号的全角度接收——这是百特原创的专利技术。这种技术不仅达到了进口仪器的用多光束技术来扩大散射光角度的效果，还避免了多光束技术造成的间断散射光信号的连接偏差和多波长造成的样品折射率偏差，使测试结果更准确，同时实现了对纳米、微米甚至毫米级样品的准确粒度测试。由于探测器数量多和结构独特，该仪器具有超强分辨单峰、双峰和多峰样品的能力。同时，该仪器还采用了样品折射率测量技术、自动对中技术、防干烧超声波分散技术、SOP技术、大功率偏振光技术等，进一步提升了它的重复性、准确性和分辨力。

测试范围:湿法: 0.02 to 2600μm;

干法Dry dispersion: 0.1 to 2600μm；

分散方式:干湿法二合一；

光路系统：正反傅里叶结合光路系统；

光电探测器：92个。

Bettersize3000Plus激光图像粒度粒形分析仪

该产品是一种激光+图像二和一的粒度粒形分析系统。它的激光散射系统为双镜头斜入射光学系统，成像系统为动态双路远心显微成像系统，可同步进行粒度和粒形分析，实现了一机两用。

粒径测试范围：0.01 ~ 3500µm；

粒形测试范围：2 ~ 3500µm；

光路系统：斜入射双镜头光路系统；

独特技术: 激光图像二合一；

分散方式：湿法分散；

光电探测器：96个。

BT-1001智能粉体特性测试仪

该产品是一种将粉体特性测试数值化、精确化的一种仪器。它通过自动控制技术、CCD摄像技术和触摸屏技术等现代技术，使粉体物性测试进入了科学化、智能化和精确化的时代。具体测试过程是用摄像机拍摄粉体的堆积图像来精确分析安息角、崩溃角、差角和平板角；通过精确称量和精密控制技术精确测试振实密度和松装密度；通过软件对测试数据进行精确处理得到准确的粉体特性数据。在粉体特性方面体现了智能化精确化的独特优势。

BT-1600图像颗粒分析仪

BeVision S1 BT-1600静态图像颗粒分析系统包括光学显微镜、数字CCD摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成。它是将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物。它的基本工作流程是通过专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄下来并传输到电脑中，通过专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行处理与分析，从而得到每一个颗粒的粒度和粒形信息，再将每一个颗粒的粒度和粒形信息进行统计，从而得到粒度（D50）及粒度分布、平均长径比及长径比分布、平均圆形度及圆形度分布等结果。

测试范围: 1 ~ 3000µm

重复性误差：≤3.0% (GBRM D50) 

准确性误差：≤3.0% (GBRM D50)